Hitachi SEM S-3700N

De Hitachi S-3700N Scanning Elektronen Microscoop (SEM) een variabele druk SEM (VP) die zowel onder hoog vacuum als onder een stikstof partieel druk tot 270Pa (0,1Atm) bedreven kan worden. De SEM is uitgerust met een Oxford AZtec EDS analyse systeem. De SEM heeft een zeer grote vacuum kamer, zodat ook grote monsters of een groot aantal (kleinere) monsters tegelijk, onderzocht kan worden.

Dankzij het kunnen werken onder partieel druk hoeven monsters niet meer voorbehandeld te worden met een geleidende coating. De SEM is daarom uitermate geschikt voor onderzoek aan niet geleidende materialen. Verontreinigde monsters, bijvoorbeeld met (natte) corrosieproducten of vet en olie hoeven niet vooraf gereinigd te worden. Wat vooral voor schadeonderzoek een belangijk pluspunt is.

Maar ook kan test materiaal gekarakteriseerd worden, waarna de test voortgezet kan worden. Reinigen of coaten hoeft namelijk niet.

Dankzij het EDS (Energie Dispersieve Spectraal element analyse) systeem kan de chemische samenstelling van materialen of deposities bepaald worden.

Wolfram filament

Resolutie tot 10nm bij 30kV onder hoog vacuum en ideale monsters

Optimale signaalruis verhoudingen bij 1kV, 5kV, 10kV, 15kV en 30kV

Maximaal te onderzoeken monstergroote tot een diameter van 200mm en 110mm hoogte

Maximale monster grootte: 300mm diameter en 110mm hoog,

5-assige stage, tilt -20°/+90°

Maximaal gewicht: 5kg

Oxford AZtec EDS analyse systeem.

Geautomatiseerde element analyses

Line scans

Röntgen element mapping

Hoog vacuüm en stikstof partieeldruk tot 270Pa

Geschikt voor alle materialen (metalen, kunststoffen, keramiek, composieten) ook zeer poreuze materialen.

EDS, Energie Dispersieve Spectraal analyse

PMI

Geschikt voor in-situ proeven

Deze elektronenmicroscoop is zeer geschikt voor de volgende toepassingen:

Schadeonderzoek

Grote monsters en eventueel vervuilde monsters

Corrosieonderzoek

As onderzoek bijvoorbeeld voor biomassa vergassing

Zonneceltechnologie

Membraantechnologie

Verbrandingstechnologie

Energie technologie en transitie

Geautomatiseerde deeltjes analyse

Chemische analyse van alle soorten materialen zonder voorbehandeling (quantitatief vanaf natrium, Na, kwalitatief vanaf B tot Na)

Alternatief voor XRF met hogere nauwkeurigheid

PMI, Positieve Materiaal Identificatie